安东帕密度计dma35电池

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PC胶片的优点：它是热塑性工程塑料，性能优好、具有突出的抗冲击能力、耐蠕变和尺寸稳定性好、它不紧耐热、吸水率低，而且介电性能较好、无毒，是五大工程塑料中具有优良透明性的产品，也是这些年来增长速度***通用工程塑料。现在主要应用于汽车、电子电器、建筑、办公设备、包装、运动器、、航空航天、计算机、光盘等高科技领域。另外其他像绝缘PC胶片、黑色防火PC胶片、PC垫片这些特点是屏蔽用导电泡棉是以低表面电阻(0.03ω)的导电布包覆泡棉经涂胶成形、切割而成。其中导电布材质系以强韧聚脂纤维为基材,在其表经无电解导镀,镀上导电性的铜、银和镍金属,具有良好的导电性和的屏蔽性能.泡棉采用耐高温海棉,其压缩性佳,柔软性良好,使其能确保良好的导通接触面积.是目前应用最广的屏蔽材料,现在主在适用于电脑外壳、笔记本电脑、电话、光驱机、LCD、电子设备框休、基板接地、高频设备、便携式电话、无线机器、仪器等；随着高科技的发展，PC应用的领域范围越来越广，由于PC胶片的性能及特性是多样化的，不同的行业特性要求也是不一样的，像透明的PC可以用LH-220透光率仪，黑色PC或者磨砂的用LH-230透光率仪。
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5.无线电计量器具
高频电压标准、同轴热电转换器、微电位计、高频电压表、高频毫伏表、高频微伏表、低频电压标准源、低频电压表、高频电流表、校准接收机、标准信号发生器、调幅度仪、频偏仪、调制度仪、失真度仪检定装置、失真度仪、低失真信号发生器、音频分析仪、脉冲发生器、时标发生器、标准脉冲幅度发生器、脉冲电压表、高频阻抗分析仪、高频标准电阻、高频标准电感、高频标准电容、Q表、高频Q值标准线圈、高频介质标准样片、高频电容损耗标准、高频零示电桥、谐振式阻抗仪、矢量阻抗表、矢量阻抗分析仪、高频电容损耗仪、高频介质损耗仪、高频微波功卒座、高频微波功率计、高频微波功率指示器、高频微波功率计校准装置、衰减器校准装置、衰减器、相位标准、相位计、移相器、相位发生器、微波阻抗标准装置、微波阻抗标准负载、测量线、反射计、阻抗图示仪、网络分析仪、高频微波噪声发生器、高频微波噪声测量仪、标准场强发生器、高频近区标准场装置、微波标准天线、高频场强计、微波漏能仪、测量接收机、干扰测量仪、脉冲响应校准器、晶体管图示仪、晶体管图示仪校准装置、晶体管参数测试仪、电子管参数测试仪、频谱分析仪、波形分析仪、电视综合测试仪，电视参数测试仪、示波器、示波器校准仪、抖晃仪、雷达综合测试仪、心电图仪检定装置、脑电图仪检定装置、心脑电图仪、半导体材料工艺参数测量标准、半导体材料工艺参数测量仪、集成电路参数测量标准、集成电路参数测量仪。
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试验一、颗粒分析试验（密度计法）（一）概述颗粒分析试验的目的是测定土中各种粒组含量占该土总质量的百分数，并据此绘制颗粒大小分配曲线。密度计法适用于分析粒径小于0.075mm的土样，若试样中含有大于0.075mm的粒径时，应联合使用密度计法和筛析法。（二）试验原理密度计法是将一定质量的试样加入4浓度的六偏磷酸钠10mL，混合成1000mL的悬液，并使悬液中的土粒均匀分布。此时悬液中不同大小的土粒下沉速度快慢不一。一方面根据斯笃克（Stokes,G.G,1845）定律计算悬液中不同大小土粒的直径，另一方面用密度计测定其相应不同大小土粒质量的百分数。1.斯笃克定律斯笃克研究了球体颗粒在悬液中下沉问题，认为不同球体颗粒在悬液中的下沉速度与它们直径大小d有关，这种反映悬液中颗粒下沉速度和粒径关系的规律，称为斯笃克定律。按照这一定律，土颗粒在溶液中下沉时，较大的土粒首先下沉，经过某一时段t，只有比某一粒径d小的土粒仍然浮在悬液中，这些土粒在悬液中通过铅直距离L，在时间t内下沉速度为或（1–1）式中η纯水的动力粘滞系数，Pa·s（10-3）；d土颗粒粒径，mm；土粒的密度，g/cm3；Gs土粒的比重；水的密度，g/cm3；温度4℃时水的密度，g/cm3；温度T℃时水之比重；L某一时间t内土粒的沉降距离，cm；t沉降时间，s。为了简化计算，用图1–1的斯氏列线图，便可求得粒径d值。此时，悬液中在L范围内所有土粒的直径都比算得的d值小，而大于d的土粒都下沉到比L大的深度处。图1–1斯笃克列线图2．悬液中土粒质量的百分数设V为悬液的体积，Ws为该悬液内所含土颗粒总质量。故开始时悬液单位体积内的土粒质量为，土粒的体积为。单位体积的悬液是由土粒和水组成，则水之体积应为，水之质量为，式中为试验开始时温度为T℃的水的密度。那么开始时土粒均匀分布的悬液密度为或（1–2）式中其他符号的意义同前。现从量筒中液面下深度L处，取一微小体积的悬液进行研究。自开始下沉至t时间，悬液内大于粒径d之土粒，都通过此微小体积而下沉，小于粒径d之土粒一部分已通过此微小体积之底部，另一部分同时进入该体积之顶部，故该微小体积内小于粒径d的数量保持不变。设时间为t，该微小体积内小于粒径d之土粒质量为，则与总体积V内土粒质量之比为X（），即则单位体积内小于粒径d之土粒质量为。故经过时间t后在深度L处该微小体积悬液的密度，可由式（1–2）求得或（1–3）图1–2密度计用密度计测得任何时间t，任何深度L处1000mL悬液内的密度，即可按上式算得小于某粒径d的土粒质量的百分数。3．密度计读数的校正目前通常采用的密度计（图1–2）有甲、乙两种，其制造原理和使用方法基本相同。甲种密度计读数系表示1000mL悬液中所含土质量的克数，乙种密度计的读数表示悬液比重。两种密度计通常是在温度为20℃时刻划的，而且土粒比重都以2.65为基准。在使用密度计时，由于使用条件的变化等原因，产生了系统误差，需要进行如下校正。（A）刻度及弯液面校正由于密度计在制造时刻度的可能误差，使用前必须经过检验校正。此外，密度计的刻度是以弯液面底为准，而在使用时，由于悬液混浊，其读数以弯液面顶部为准。如图1–2。应校正后才能用于计算（校正值由实验室给出）。图1–3弯液面校正（B）温度校正密度计的刻度一般是在20℃时进行的，使用时悬液温度不等于20℃，则水的密度及密度计浮泡体积发生变化，须加以校正，可以从表1–2查得温度校正值。（C）分散剂校正密度计刻度是以纯水为标准的，当悬液中加入分散剂时，则密度增大，亦需加以校正，校正值由实验室给出。（D）土粒沉降距离校正密度计读数除用以求得悬液中土粒的含量以外，还用以确定土粒的实际下沉距离（有效沉降距离），借以计算粒径d。当密度计放入悬液内，液面因而升高，此时液面至密度计浮泡中心的距离，并不代表土粒的实际沉降距离。因此，必须加以校正。校正值由实验室给出。一般进行校正时，温度对水的影响已在斯笃克公式中考虑，只需对密度计读数进行弯液面校正。做沉降距离校正曲线时，将密度计的每一分度加上弯液面校正值，就可供直接计算使用，从而求得土粒的有效沉降距离。将以上校正代入?p>了解更多关于：简易密度计图片，密度计能在太空使用么，固体密度计英语，乙种密度计读数，超声波密度计寿命，详细说明用密度计测量网点面积率的步骤，密度计测得的数值，qc ppt 密度计，密度计刻度怎么表，甲种密度计法取样，ym 2液体密度计，密度计测机械组成，帕瑞奥液体密度计，制作密度计探究报告，电解液密度计怎么量，甲种密度计修正记录，e h密度计80说明书，密度计浮沉图片，表针式密度计，核子密度计仪
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