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雷达液位计导波管结构

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一、雷达液位计产品概述:
XE-LD雷达液位计是江苏汇通生产的一种基于时间行程原理的物位测量仪表,雷达波以光速运行,运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号。探头发出脉冲信号,当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收,并将距离信号转化为物位信号。因此,雷达液位计可以用于反应釜、固体料仓等一些复杂环境的物位测量。
二、雷达液位计产品特点:
1、天线尺寸小,便于安装;非接触雷达,无磨损,无污染。
2、几乎不受腐蚀、泡沫影响;几乎不受大气中水蒸气、温度和压力变化影响。
3、严重粉尘环境对高频物位计工作影响不大。
(雷达液位计导波管结构)

天气寒冷时引压管内的液体容易凝固,需要进行伴热保温;
测量的综合误差大,变送器测量微差夺的精确度有限,再加上取样管路中液柱的不稳定等因素致使实际测量的综合误差较大。
4、主流品牌
进口:德国西门子、E+H;美国罗斯蒙特等
国产:重庆川仪;江苏红旗;江苏ABG等
二、射频导纳液位仪表
射频导纳是一种从电容式发展起来的,是电容式位技术的升级。
所谓射频导纳,导纳的含义为电学中阻抗的倒数,它由电阻性成分、电容性成分、感性成分综合而成,而射频即高频无线电波谱,所以射频导纳可以理解为用高频无线电波测量导纳。仪表工作时,仪表的传感器与灌壁及被测介质形成导纳值,物位变化时,导纳值相应变化,电路单元将测量导纳值转换成物位信号输出,实现物位测量。
(雷达液位计导波管结构)

NIVELCO(尼威)导波雷达液位计MICROTREK系列的电磁脉冲是通过光速进行传播的,光速沿着钢缆或探棒传播,当遇到被测介质表面时,导波雷达液位计的部分脉冲被反射而形成回波,并沿相同路径返回到脉冲发射装置。NIVELCO(尼威)导波雷达液位计(HTP-OEM-C)测量不受罐体形状的影响,也不受介电常数、温度、压力与密度的影响,是测量液位的最佳方法。
量程:最大24m
液体精度:±5mm,≥10m时,测量值0.05%
温度飘移:0.01%/℃
重复性:2mm
介质温度:普通型:-30℃~+90℃
高温型:-30℃~+250℃
环境温度:-30℃~+60℃带显示:-20℃~+60℃
(雷达液位计导波管结构)

4、由于光速电磁波、是恒定的,不需要任何迁移来改变仪表量程,不需现场标定,仅需现场输入有关参数即可使用。多台仪表在效验台上仅需几分钟即可组态调校完毕,在组态时,需接上24VDC电源并提供每个储罐的测量参数。
5、介质密度的变化对测量无影响,介质密度的变化影响浸没于介质中物体所受到的浮力,但不影响电磁波在波导体中的传播。
6、雾气和泡沫对测量无影响,由于电磁波不通过空间传播,因而雾气不会引起信号的衰减,泡沫也不会对信号进行散射而损失能量
7、介质在波导体上的沉积和涂污对液位测量的影响极小。介质在探头上的涂污对测量液位的影响可分为两种:膜状涂污和桥接。膜状涂污是在液位降低时,高粘液体或轻油浆在探头上形成的一种覆盖层。由于这种涂污在探头上涂层均匀,因此对测量基本无影响;但桥接性涂污的形成却能导致明显的测量误差,,当块状或条状介质污垢粘结于波导体上或桥接于两个波导体之间时,就会在该点测得虚假液位。导波雷达液位测量技术的进一步发展,将有可能减少或完全消除这种测量误差。
(雷达液位计导波管结构)

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采用两线制、回路供电的技术,供电电压和输出信号通过一根两芯电缆传输,
4…20mA输出/HART(两线)
不受压力、温度变化、惰性气体、真空、烟尘、噪音、蒸汽、粉尘、等工况影响
不受介质密度、粘稠度和温度的变化影响
过程压力可达2Mpa,过程温度可达260℃,分辨率1mm,无盲区,高精度。
两线制技术,是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
测量灵敏,刷新速度快,安装简便,牢固耐用,免维护。
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